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我司专业人员为客户进行QWED夹具的安装与调试

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ca88亚洲城手机版入口:778    亚洲城手机版客户端:2018-1-5 14:38:00

品牌

产品名称

型号

数量

QWED

10GHZ介电特性测量分离式介质谐振器

10GHZ RESONATOR

1


项目背景描述

  亨斯迈化学研发中心(上海)有限公司配套使用我司经销的品牌:QWED10GHZ介电特性测量分离式介质谐振器一台,配合安捷伦测试仪检基板的介电特性。


任务描述

现场安装10GHZ介电特性测量分离式介质谐振器夹具,安装10GHZ软件。


一、产品介绍

分离式介电谐振器提供精确的技术,可在1到20GHz频率范围内的单一频率点上测量介电和铁氧体基片及薄膜复杂的介电常数。


1、测量程序

   测量了所研究的样品的空谐振器和谐振器的谐振频率和Q因子。专门的软件提供了介电常数和介电损耗角正切测定。安捷伦科技有权访问PNA / ENA系列网络分析仪的用户,配备了带有选件300的85071E材料测量软件,只需将QWED的专用应用程序上传到网络分析仪,并直接在显示屏上获得最终结果。如果配备Windows操作系统,使用不同网络分析仪的用户需要在标准PC机或网络分析仪上安装用于介电性能计算的软件。

2、操作频率范围

   SPDR使用特定的谐振模式。该模式具有特定的谐振频率,取决于谐振器的尺寸,但在一定程度上取决于所测量的样品的电特性。因此,每个谐振器都是为特定的标称频率而设计的,而实际的测量则是以接近标称频率的频率进行的。SPDR基本线路的标称频率为:1.1 GHz,1.9 GHz,2.45 GHz,5 GHz,10 GHz。 其他1.1至15 GHz频率范围内的谐振器可根据特殊要求制造。

3、执行测量所需的附加设备

微波Q-Meter或矢量网络分析仪

4、操作温度

-270℃……1100℃

5、应用

  SPDRs旨在用于测量包括LTCC基质在内的层状介电材料的复介电常数,而且还用于沉积在低损耗介质衬底上的薄铁电薄膜。另外,SPDRs可以用于测量各种导电材料如商业电阻层,薄导电聚合物膜或高电阻率半导体的表面电阻和导电率。这种测量仅适用于Rs> 5kΩ/square的大表面电阻样品。


二、产品安装调试 

  2017年12月14日上午九点,我司技术人员抵达亨斯迈上海研发中心,在厂方的安全培训后,我司技术人员来到研发中心实验室进行分离式介电谐振器的安装与调试。经过两天的调试,在第二天的下午完成了10GHZ介电特性测量分离式介质谐振器的安装与调试,对厂方工作人员进行了设备操作的说明。


现场图片如下:








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